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激光粒度测试技术的理论依据

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激光粒度测试技术的理论依据

发布日期:2016-04-08 00:00 来源: 点击:

图像颗粒分析仪颗粒在工业生产中有着非常广泛的应用,也和人们的日常生活密切相关。颗粒粒径是颗粒的最重要参数,颗粒粒径的大小在许多情况下直接影响到相关产品的性能和质量。近年来,随着各种新型颗粒材料的出现,也给激光粒度仪的粒度测量的准确性和分辨率等指标提出了更高的要求。

    对粉体粒度分布的测定可用显微镜法、图像解析法、电阻法、沉降法、激光衍射散射法、光子相关法等。其中激光法是应用最广泛的一种方法,它集成了激光技术、光学技术、电子技术、精密机械和计算机技术,具有测量速度快、动态范围大、操作简便、重复性好等优点。激光粒度测试的理论依据有两个,一是Mie散射理论,这一理论是描述颗粒对激光散射规律的严格理论,它考虑到了颗粒对激光的衍射、散射、反射、折射和吸收等现象,适合大大小小的颗粒,得到了结果准确性较高,是当前激光粒度仪厂家普遍采用的理论。二是Fraunhofer衍射理论,它是Mie散射理论的简化版,它的唯一优点是计算简单,缺点是仅适合大于5微米以上的颗粒(前向小角度散射),并且不考虑颗粒对激光的折射、反射、吸收特性,所得到的结果特别是细颗粒的结果误差较大,是早期激光粒度仪使用的理论。图像颗粒分析仪



图像颗粒分析仪

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